高光譜成像技術(shù)是基于非常多窄波段的影像數據技術(shù)，它將成像技術(shù)與光譜技術(shù)相結合，探測目標的二維幾何空間及一維光譜信息，獲取高光譜分辨率的連續、窄波段的圖像數據。高光譜成像技術(shù)發(fā)展迅速，常見(jiàn)的包括光柵分光、聲光可調諧濾波分光、棱鏡分光、芯片鍍膜等?？梢詰迷谑称钒踩?、醫學(xué)診斷、航天領(lǐng)域等領(lǐng)域。與其他光譜成像—樣，高光譜成像收集和處理來(lái)自電磁波譜的信息。目標是獲得場(chǎng)景圖像中每個(gè)像素的光譜，可用于尋找物體，識別材料或檢測過(guò)程。其光譜成像有兩種，其一是推掃式掃描，它能夠隨著(zhù)時(shí)間的推移讀...

煤巖分析系統是一種用于冶金工程技術(shù)領(lǐng)域的分析儀器，用于巖礦、石油顯微組織的觀(guān)察與分析以及煤炭的反射率及焦炭組分分析。其優(yōu)點(diǎn)有哪些？(1)測定速度快：每分鐘測定1000點(diǎn)；(2)測定點(diǎn)數多：至少測定1萬(wàn)點(diǎn)；(3)測定省時(shí)省力；(4)不受人為因素干擾，測定結果客觀(guān)公正；(5)測定符合統計規律，測定結果重現性與再現性都優(yōu)于有關(guān)國家標準；(6)可滿(mǎn)足焦化企業(yè)應用中快速、代表性好等要求；(7)可發(fā)現人工或半自動(dòng)測定由于測點(diǎn)少，不能測定到少量混入成分的問(wèn)題；Fossil全自動(dòng)煤巖分析系統...

普通掃描電鏡基于高能電子束與樣品表面相互作用，采用信號檢測系統獲得樣品反饋信號，并通過(guò)數字轉換器處理并重建圖像。這種原理使SEM具有高分辨率、高靈敏度和高定量性等優(yōu)點(diǎn)。普通掃描電鏡使用注意事項：1.操作時(shí)需要穿戴防護設備，確保個(gè)人安全；2.在操作時(shí)應注意鏡頭、樣品和設備的清潔和維護，保持其良好狀態(tài)。1.準確的電鏡使用方法和規范的操作流程可以延長(cháng)電鏡的使用壽命和提高工作效率。2.要定期進(jìn)行電鏡的清潔和維護，特別是鏡頭、樣品臺、探針等部件，使用專(zhuān)業(yè)清潔劑進(jìn)行清潔。3.電鏡放置在干...

X射線(xiàn)粉末衍射儀主要用于研究物質(zhì)晶體結構、物相分析、測定點(diǎn)陣參數等，廣泛用于大中專(zhuān)院校、科研單位及工礦企業(yè)實(shí)驗室。主要用于研究物質(zhì)晶體結構、物相分析、測定點(diǎn)陣參數等，廣泛用于大中專(zhuān)院校、科研單位及工礦企業(yè)實(shí)驗室。主要用途：1、可對各種多晶樣品進(jìn)行物相定性與定量分析及結構分析。2、分峰和譜圖擬合及晶胞參數、晶粒尺寸、結晶度測定等。3、本儀器除進(jìn)行常規粉末物質(zhì)檢測外，該儀器在化學(xué)、物理材料、生物及礦物學(xué)領(lǐng)域均有廣泛應用。4、儀器配置附件可進(jìn)行原位反應物相分析、粒徑分析、纖維取向分...

低溫環(huán)境XRD是一種常用的材料研究手段，可以用于檢測材料的晶體結構、物相組成、晶格缺陷等信息。原理基于物質(zhì)在低溫下會(huì )發(fā)生晶格結構的變化，這種變化可以通過(guò)X射線(xiàn)衍射分析來(lái)檢測。具體而言，當物質(zhì)受到X射線(xiàn)照射時(shí)，X射線(xiàn)會(huì )穿過(guò)物質(zhì)并產(chǎn)生衍射。衍射信號的強度取決于物質(zhì)的晶體結構，晶體結構的變化會(huì )導致衍射信號的強度發(fā)生變化。通過(guò)對衍射信號的分析，可以推斷出物質(zhì)的晶體結構、物相組成、晶格缺陷等信息。在材料科學(xué)領(lǐng)域有廣泛的應用。例如，在陶瓷材料、高分子材料、金屬材料等領(lǐng)域，低溫環(huán)境下X射線(xiàn)...

原子力顯微鏡AFM是一種可用來(lái)研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。主要用途：材料表面形貌的觀(guān)察和分析；對生物細胞的表面形態(tài)觀(guān)察；生物大分子的結構及其他性質(zhì)的觀(guān)測研究；生物分子間力譜曲線(xiàn)的觀(guān)測。原子力顯微鏡受工作環(huán)境限制較少，它可以在超高真空、氣相、液相和電化學(xué)的環(huán)境下操作。（1）真空環(huán)境：最早的掃描隧道顯微鏡（STA）研究是在超高真空下進(jìn)行操作的。后來(lái)，隨著(zhù)AFM...

鎢燈絲電鏡(TungstenFilamentElectronMicroscopy，WEM)是一種常見(jiàn)的透射電鏡(TEM)，利用結晶或非晶樣品所產(chǎn)生的散射證據來(lái)分析材料結構。電子束被放射出來(lái)，經(jīng)過(guò)聚焦實(shí)現功能的集成電路(ASIC)后聚焦到樣品上，然后在樣品上發(fā)生彈性和非彈性碰撞。不同反射角度的電子會(huì )產(chǎn)生不同強度的暗場(chǎng)和亮場(chǎng)效果，提供了微觀(guān)結構的信息。如何使用鎢燈絲電鏡？1.準備完整設備，將標本拍攝模塊安裝到鎢絲爐板下方。2.使用純酸和去離子水清洗標本，防止在取樣時(shí)污染標本。3....