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12-6
臺式掃描電鏡(DesktopScanningElectronMicroscope,DesktopSEM)相較于傳統大型SEM,臺式掃描電鏡具有體積小巧、操作簡(jiǎn)便、價(jià)格便宜、快速抽真空、不用噴金測量不導電樣品等優(yōu)勢,而且它的放大倍數可高達130,000倍。此類(lèi)新型儀器的出現填補了光學(xué)顯微鏡與傳統大型掃描電子顯微鏡之間的空白區域,可廣泛應用于材料科學(xué)、納米顆粒、生物醫學(xué)、食品藥品、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等諸多領(lǐng)域。臺式掃描電鏡的工作原理和優(yōu)點(diǎn):成像系統和電子束系統均內置在真空柱中,真...
11-10
低溫環(huán)境XRD的分析中,定量分析軸承和內燃機噴射器部件中的殘余奧氏體;檢測輸片惰性輪中的殘余應力;檢測汽車(chē)發(fā)動(dòng)機部件的殘余應力(凸輪軸、連桿、發(fā)動(dòng)機軸、均衡器);檢測由于全同火引起的殘余應力(家用電器、結構部件);檢測氣體傳導時(shí)所存在的工作壓力;檢測大幅度拉伸結構件中的工作應力;通過(guò)檢測應力來(lái)測量工件噴丸和軋制的效率;檢測鑄件的殘余應力(機械工具鑄鐵件和汽車(chē)鑄鋁部件);檢測焊接引起的應力(激光和電焊);研亢鋁合金汽車(chē)輪廓中的殘余應力和應力阻抗的笑系:優(yōu)化切削去除的工作參數以提...
11-3
日本電子電鏡是一個(gè)復雜的系統,濃縮了電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細機械結構以及現代計算機控制技術(shù)。成像是采用二次電子或背散射電子等工作方式,隨著(zhù)掃描電鏡的發(fā)展和應用的拓展,相繼發(fā)展了宏觀(guān)斷口學(xué)和顯微斷口學(xué)。是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經(jīng)過(guò)多級電磁透鏡匯集成細小(直徑一般為1~5nm)的電子束(相應束流為101-1012A)。在末級透鏡上方掃描線(xiàn)圈的作用下,使電子束在試樣表面做光柵掃描(行掃+幀掃)。入射電子與試樣相互作用會(huì )產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線(xiàn)等各種信息。這些...
10-20
高溫環(huán)境XRD是研究物質(zhì)的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線(xiàn)照射產(chǎn)生不同程度的衍射現象,物質(zhì)組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線(xiàn)衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。高溫環(huán)境XRD的原理:x射線(xiàn)的波長(cháng)和晶體內部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線(xiàn)的空間衍射光柵,即一束X射線(xiàn)照射到物體上時(shí),受到物體中原子的散射,每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波,這...
10-18
SEM掃描電鏡是一種用于放大并觀(guān)察物體表面結構的電子光學(xué)儀器。掃描電鏡由鏡筒、電子信號的收集和處理系統、電子信號的顯示和記錄系統、真空系統和電源系統等組成,具有放大倍數可調范圍寬、圖像分辨率高和景深大等特點(diǎn)。應用于生物、醫學(xué)、材料和化學(xué)等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡在使用時(shí)應需要以下事項:1、將試樣置于載物臺墊片,調整粗/微調旋鈕進(jìn)行調焦,直到觀(guān)察到的圖像清晰為止;2、調整載物臺位置,找到要觀(guān)察的視野,進(jìn)行分析;3、掃描電鏡調焦時(shí)注意不要使物鏡碰到試樣,以免劃傷物鏡;4、當載物臺墊片...
9-8
X射線(xiàn)衍射儀XRD是研究物質(zhì)的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線(xiàn)照射產(chǎn)生不同程度的衍射現象,物質(zhì)組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線(xiàn)衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線(xiàn)衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應用。X射線(xiàn)衍射儀XRD的形式多種多樣,用途各異,但其基本構成很相似,為衍射...
9-1
臺式掃描電子顯微鏡具有由三極電子槍發(fā)出的電子束經(jīng)柵極靜電聚焦后成為直徑為50mm的電光源。在2-30KV的加速電壓下,經(jīng)過(guò)2-3個(gè)電磁透鏡所組成的電子光學(xué)系統,電子束會(huì )聚成孔徑角較小,束斑為5-10nm的電子束,并在試樣表面聚焦。末級透鏡上邊裝有掃描線(xiàn)圈,在它的作用下,電子束在試樣表面掃描。高能電子束與樣品物質(zhì)相互作用產(chǎn)生二次電子,背反射電子,X射線(xiàn)等信號。這些信號分別被不同的接收器接收,經(jīng)放大后用來(lái)調制熒光屏的亮度。由于經(jīng)過(guò)掃描線(xiàn)圈上的電流與顯像管相應偏轉線(xiàn)圈上的電流同步,...
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